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極化指數吸收比智能絕緣電阻測試儀|兆歐表

更新時間:2017-02-18      瀏覽次數:1755

GDSJ型極化指數吸收比智能絕緣電阻測試儀|兆歐表于試驗室或現場做絕緣測試試驗。內含高精度微電流測量系統、數字升壓系統。只需要用一條高壓線和一條信號線連接試品即可測量。測量自動進行,結果由大屏幕液晶顯示,并將結果進行存儲。
一、極化指數吸收比智能絕緣電阻測試儀|兆歐表主要特點
1.    采用32位微控制器控制,全中文操作界面,操作方便。
2.    自動計算吸收比和極化指數,并自動儲存15秒、1分鐘、2分鐘、10分鐘的每分鐘數據便于分析。
3.    輸出電流大,短路電流大于5mA。
4.    抗干擾能力強,能滿足超高壓變電站現場操作。
5.    測試完畢自動放電,并實時監控放電過程。
6.    內附可充電電池和充電器,當不使用背光燈時,充滿電可連續使用6~12小時。
二、極化指數吸收比智能絕緣電阻測試儀|兆歐表主要技術性能
     準確度:       ±(10%+5字)
測量范圍:     0.1M~1TΩ
試驗電壓:     設定范圍:  0.5Kv~10KV  (500V、1000V、2500V、5000V、10000V共五檔) 準確度:  5%±10V                     
短路電流:     >5mA
測量時間:     1分鐘~10分鐘(與測量方式有關)
充電電源:     180~270VAC  ,50Hz/60Hz±1% (市電或發電機供電)
  工作環境:     溫度-10~40℃,相對濕度20~80%。
三、操作部件功能
1.L接線端
“L”為高壓輸出端,稱為線路端,由高壓電纜引至被測線端,例如接至電機繞組、電纜線芯。
2.G接線端
“G”稱為屏蔽端,用于三電極法測量絕緣材料或電纜的體積電阻,它接至三電極的保護環端。
3.E接線端
“E”稱為地端,接至被測物的地、零端。例如電機外殼金屬、變壓器鐵芯、電纜屏蔽層。
四、注意事項及其它
請注意安全,L為高壓端!E為地端,必需接大地!1T=1000G 1G=1000M

操作方法

測量操作

進入初始設置畫面(圖

初始設置畫面(圖一)

1.初始 測量圖標 處于選中狀態,下面顯示5000v表示測量電壓。
(1)    按↑↓鍵 增大/減小測試電壓
(2)    按→鍵在可以使 時鐘圖標 存儲圖標 設置圖標 循環處于選中狀態
(3)    按啟/停鍵1秒以上,啟動測量,顯示測量畫面(圖二)


  顯示測量畫面(圖二)

5000v         表示測試電壓
大字體105 M  表示測量的瞬時值
02’45”        表示測量過程中的時間
05-05-24 : 測量日期
15” 表示測量15秒 的數值
01’ 表示測量1分鐘 的數值
02’ 表示測量2分鐘 的數值
10’ 表示測量10分鐘 的數值
    DAR  吸收比  DAR = R60s/R15s
      PI  極化比 PI   = R10m/R60s
         Rm  當處于干擾強或試品容量比較大時候,Rm的數值更加真實的反映試品阻值。
  (4)測量過程按啟/停鍵,或測量結束,顯示放電畫

放電畫面(圖三)

600V放電過程的瞬時電壓。在這個時候一定不要接觸試品和測量線!等放電完畢,建議用戶對試品進行人工放電。

  (5)放電完畢之后,進入測量結果存儲畫面(圖四)
     量結果存儲畫面(圖四)

            右半部分數據與測量畫面一樣,請參考顯示測量畫面(圖二)的說明
            [  007  ]  :表示測量數據存儲的序號
            按→鍵在可以使  存儲 退出  007 循環處于選中狀態。
在 存儲 退出 處于選定狀態時候按啟/停鍵回到初始設置畫面(圖一)
[  007  ] 處于選中狀態時候,按→鍵在可以移動選中的位,按↑↓鍵修改序號。
2.當 時鐘圖標 處于選中狀態 。
        (1) 按啟/停鍵,進入時間顯示與設置畫面(圖五)

時間顯示與設置畫面(圖五)

        
(2) 退出 處于選中狀態 按啟/停鍵 回到初始設置畫面(圖一)
(3) 設置 處于選中狀態 按啟/停鍵 會在日期、時間下面出現小箭頭
           按↑↓鍵修改日期時間。
(4)    修改完畢,按啟/停鍵 設置 會處于選中狀態。
(5)    按→鍵在可以使 設置 與退出 循環處于選中狀態。在修改日期時間時候,循環移動小箭頭

3.當 存儲圖標 處于選中狀態
        (1) 按啟/停鍵,進入查看存儲數據畫面(圖六)

查看存儲數據畫面(圖六)

        (2)右半部分數據與測量畫面一樣,請參考顯示測量畫面(圖二)的說明
        (3)[ 000 ] 到[ 007 ] 表示測量序號
(4)按↑↓鍵 使[ 000 ] 到[ 007 ]處于選中狀態,右邊顯示此序號的數據
(5)按→鍵 翻頁
(6)    按啟/停鍵 回到初始設置畫面(圖一)


4.當 設置圖標 處于選中狀態
        (1) 按啟/停鍵,進入設

設置畫面(圖七)

         (2)按→鍵   使 退出 背光 聲音 循環處于選中狀態。
         (3)按↑↓鍵 改變相應的設置
         (4)按啟/停鍵 回到初始設置畫面(圖一)

儀器原理簡介

結構

                                                    測量電壓
      數控調壓器
      0~5V                  DC-DC            
                          0-10KV            分壓
                                        電路


           
                               測量電路
      控制器                                        試品輸入

 


   液晶鍵盤


4.2各部分功能
    液晶鍵盤:     負責鍵盤、顯示。
    數控調壓器:   采用PWM電路率產0-5V標準輸出。
DC-DC 0-10Kv:采用升壓變壓器,轉換,輸出0-10kv的直流高壓。具有短路保護功能
    分壓電路:     0-10KV的高壓,轉換成0-5付,便于AD采集。
測量電路:     負責數據采集,電流變換等。
控制器 :      將所有上述模塊連接,完成測量。

影響電阻或電阻率測試的主要因素

  a.環境溫濕度
  一般材料的電阻值隨環境溫濕度的升高而減小。相對而言,表面電阻(率)對環境濕度比較敏感,而體電阻(率)則對溫度較為敏感。濕度增加,表面泄漏增大,體電導電流也會增加。溫度升高,載流子的運動速率加快,介質材料的吸收電流和電導電流會相應增加,據有關資料報道,一般介質在70C時的電阻值僅有20C時的10%。因此,測量材料的電阻時,必須指明試樣與環境達到平衡的溫濕度。
   b.測試電壓(電場強度)
  介質材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內保持不變,即歐姆定律對此并不適用。常溫條件下,在較低的電壓范圍內,電導電流隨外加電壓的增加而線性增加,材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后,由于離子化運動加劇,電導電流的增加遠比測試電壓增加的快,材料呈現的電阻值迅速降低。由此可見,外加測試電壓越高,材料的電阻值越低,以致在不同電壓下測試得到的材料電阻值可能有較大的差別。
  值得注意的是,導致材料電阻值變化的決定因素是測試時的電場強度,而不是測試電壓。對相同的測試電壓,若測試電極之間的距離不同,對材料電阻率的測試結果也將不同,正負電極之間的距離越小,測試值也越小。
  c.測試時間
  用一定的直流電壓對被測材料加壓時,被測材料上的電流不是瞬時達到穩定值的,而是有一衰減過程。在加壓的同時,流過較大的充電電流,接著是比較長時間緩慢減小的吸收電流,zui后達到比較平穩的電導電流。被測電阻值越高,達到平衡的時間則越長。因此,測量時為了正確讀取被測電阻值,應在穩定后讀取數值或取加壓1分鐘后的讀數值。
  另外,高絕緣材料的電阻值還與其帶電的歷史有關。為準確評價材料的靜電性能,在對材料進行電阻(率)測試時,應首先對其進行消電處理,并靜置一定的時間,靜置時間可取5分鐘,然后,再按測量程序測試。一般而言,對一種材料的測試,至少應隨機抽取3~5個試樣進行測試,以其平均值作為測試結果。


  d.測試設備的泄漏
  在測試中,線路中絕緣電阻不高的連線,往往會不適當地與被測試樣、取樣電阻等并聯,對測量結果可能帶來較大的影響。為此:
  為減小測量誤差,應采用保護技術,在漏電流大的線路上安裝保護導體,以基本消除雜散電流對測試結果的影響;
  高電壓線由于表面電離,對地有一定泄漏,所以盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導線作為高壓輸出線并盡量縮短連線,減少,杜絕電暈放電;
  采用聚乙烯、聚四氟乙烯等絕緣材料制作測試臺和支撐體,以避免由于該類原因導致測試值偏低。
   e.外界干擾 
   高絕緣材料加上直流電壓后,通過試樣的電流是很微小的,極易受到外界干擾的影響,造成較大的測試誤差。熱電勢、接觸電勢一般很小,可以忽略;電解電勢主要是潮濕試樣與不同金屬接觸產生的,大約只有20mV,況且在靜電測試中均要求相對濕度較低,在干燥環境中測試時,可以消除電解電勢。因此,外界干擾主要是雜散電流的耦合或靜電感應產生的電勢。在測試電流小于10-10A或測量電阻超過1011歐姆時;被測試樣、測試電極和測試系統均應采取嚴格的屏蔽措施,消除外界干擾帶來的影響

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